在耐候性和耐光性测试中，选择合适的 辐照度控制点 辐照度对于获得准确的结果至关重要。辐照度以单位面积的光辐射功率表示，在测试标准中，辐照度被指定为特定波长或波长范围内的量级。例如， ASTM G154 第一个紫外线照射周期要求 1 nm 时 0.89 W/m²/nm，而 ASTM G155 氙弧灯照射的第5个周期要求在1.10nm波长下达到420 W/m²/nm的辐射强度。一些标准使用全紫外（TUV，300-400nm）控制，甚至使用更宽的“紫外+可见光”范围（300-800nm）。但问题是， 如何选择最佳控制点?

在荧光紫外线测试中使用 QUV试验机，窄带控制波长取决于灯的类型。 UVA-340灯 峰值在 340 nm 附近，使其成为一个自然的控制点，而 UVB-313灯 控制在 310 nm 峰值，因为 313 nm 处的峰值是汞荧光粉的产物，可能并不总是代表灯的辐照度。 UVA-351灯尽管峰值接近 351 nm，但为了保持一致性和校准简便性，仍控制在 340 nm，如 ISO 4892-3 第 5 个周期。 UVC-254 灯 将其所有输出集中在 254 nm，因此控制波长的决定很简单！ TUV-421灯 具有更宽的紫外区甚至可见光谱，因此选择TUV（300-400nm）控制。

对于 Q-SUN氙弧试验机，根据光学滤波器和测试焦点的目标来选择窄带控制点。 日光滤光片，用于通常对紫外线敏感的户外材料，通常使用 340 nm 控制点，确保灯老化时紫外线区域的光谱稳定性。 窗口过滤器适用于受长波长紫外线或可见光影响的室内材料，通常使用 420 nm 控制点，因为 340 nm 处的辐照度可能较低。然而，也有一定的灵活性——日光滤光片可以使用 420 nm 控制，而窗口滤光片（窗口红外除外）可以使用 340 nm，具体取决于应用。

表 1. 辐照度控制波长。双绿色复选标记表示控制点可用且最常用 - 单个绿色复选标记表示控制点可用且有效，但不太常用。

TUV控制 （300–400 nm）提供了一种折衷方案，在 340 nm 和 420 nm 之间取得平衡，从而捕获总紫外线辐照度。TUV 控制在许多 ISO 和欧洲标准中都有规定，当被测材料的光谱灵敏度未知时，这是一个不错的选择。所有 Q-SUN 测试仪均提供 340 nm、420 ​​nm 和 TUV 控制；Xe-8 型号将这三种标准都作为板载传感器阵列的一部分。

光谱功率分布 Q-Portal 上提供 Q-Lab 所有滤光片和灯的光谱功率谱密度 (SPD) 数据，可用于不同设定值之间的转换。这些数据还可用于计算曝光时间，以达到特定的辐射曝光量（以 MJ 或 kJ 为单位）。

Q-Lab 不建议使用所谓的“紫外+可见光”或“全局”控制波长范围（300-800 nm 或 300-3000 nm），原因如下。这两个范围都过于重视可见光和红外光成分，而这些成分对材料耐久性的影响远不如紫外光重要。此外，测量 1000 nm 以上的辐照度非常困难，这会给测量带来额外的误差。

总之，选择辐照度控制点基于 灯或过滤器类型 和 材料的敏感性QUV 灯始终使用与其输出相关的控制点。氙气灯可以使用窄带（340 nm 或 420 nm）或宽带（TUV）辐照度进行控制，具体取决于测试标准